仪器简介 通过测量光在样品表面反射或透射时偏振态的变化，获取材料光学常数和薄膜厚度等信息。应用场景：广泛应用于半导体材料研究、薄膜生长过程监控、光学器件设计与检测、材料表面与界面研究等，为材料光学性能分析和质量控制提供重要数据。 设备使用相关说明 校内：200元/小时 校外：300元/小时 应用案例
