仪器简介

主要用于材料微观结构研究（形貌、结构、缺陷及界面的微观分析，包括明场像、暗场像、SAED、STEM像、高角环形暗场像、选区电子衍射、背散射电子像/二次电子像等）及成分研究：成分的定性和半定量分析，元素的点、线和面分析等。   

主要配置

Gatan ClearView相机、双探头能谱、多样品杆、SEI/BEI探测器。   

关键指标      

TEM点分辨率：0.23 nm (200kV)，STEM分辨率：0.16 nm (200kV)，SEI分辨率：1 nm (200kV)，EDS分辨率：133 eV。            

主要功能

选区电子衍射、衍衬像、高分辨像（HRTEM）、扫描透射像（ABF、BF、HAADF）、X射线能谱（EDS）、二次电子成像、背散射电子成像。     

设备使用相关说明 

校内：400元/小时。

校外：800元/小时。  

应用案例

左：铝合金HRTEM图，中：层状钙钛矿陶瓷样品HAADF图，右：金包覆的氧化铁颗粒EDS元素分布图