仪器简介

主要用于分析固体材料的微观组织、原子结构、缺陷结构、微区化学成分与电子结构特征；纳米颗粒形貌、尺寸分布、原子结构、化学组分及分布；具有洛伦兹成像模式，能够分析磁性材料的磁畴结构。 

主要配置

物镜球差校正器、X射线能谱仪、洛伦兹透镜。   

关键指标      

稳定工作电压：300kV、120kV、80kV；HRTEM像：0.08nm；STEM像：0.136nm。            

主要功能

选区电子衍射、衍衬像、高分辨像（HRTEM）、扫描透射像（STEM、BF、HAADF）、X射线能谱（EDS）、出射波重构、洛伦兹显微像。       

设备使用相关说明 

校内：600元/小时。

校外：1200元/小时。   

应用案例

左：石墨烯包覆的贵金属颗粒HRTEM图，中：Si(011)的HAADF图，右：包覆的铁钴合金颗粒EDS元素分布图