仪器简介

主要用于分析固体材料的微观组织、原子结构、缺陷结构、微区化学成分与电子结构特征；纳米颗粒形貌、尺寸分布、原子结构、化学组分及分布；样品形貌、结构和成分的三维重构分析。 

主要配置

电子枪单色器、聚光镜球差校正器、X射线能谱仪、电子能量损失谱仪。    

关键指标      

稳定工作电压：300 kV、60 kV；HRTEM像：0.2 nm；STEM像：0.06 nm；EELS谱：0.2 eV。            

主要功能

选区电子衍射、衍衬像、高分辨像（HRTEM）、扫描透射像（BF、ABF、HAADF、DPC、iDPC）、X射线能谱（EDS）、电子能量损失谱（EELS）、三维重构。       

设备使用相关说明 

校内：1000元/小时。

校外：2000元/小时。   

应用案例

左上：超晶格样品EDS谱图，左下：超晶格样品EELS谱图，右图：超晶格样品原子级EELS元素分布图