仪器简介

主要用于金属材料、非金属材料和纳米材料等多种材料的电子显微学研究，在高真空条件下对样品进行直接的超高分辨显微形貌观察、微区元素分析和晶体取向分析，以及扫描电镜下原位力学分析。

主要配置

X射线能谱仪、背散射电子衍射仪。

关键指标

工作电压：10V--30kV；SEM二次电子像：0.7nm（20kV）、1.3nm（1kV）；背散射电子像：1.5nm（20KV）;力学传感器20mN和200mN，室温至800℃连续可控；

主要功能

SEM像（二次电子像、背散射电子像）、X射线能谱（EDS）、背散射电子衍射（EBSD）;在扫描电镜SEM下原位实现静态压痕、压缩、拉伸、弯曲、应力松弛、蠕变、快速映射扫描（Mapping）以及动态疲劳等。

设备使用相关说明

校内：300元/小时。

校外：400元/小时。

校外EBSD 600元/小时。

应用案例

银枝晶

高温微柱压缩