仪器简介

该台式X射线吸收精细结构谱仪具有X射线发射谱（XES）和X射线吸收精细结构谱测量（XAFS）功能，可获得材料氧化态和键共价性、配位数、原子间距等信息。

主要配置

高分辨罗兰环结构硬X射线单色器系统、硅漂移检测器（SDD）。

关键指标

XAFS能量范围：5-19 keV，能量分辨率：0.5-1.5 eV (7-9 keV) ; XES模式能量分辨率：1.0 -1.5 eV (7-9 keV);光通量：300,000~500,000 photons/sec. (7-9 keV)。

主要功能

X射线发射谱测试(XES)、X射线吸收谱测试（XAFS）。

设备使用相关说明

校内：300元/小时

校外：600元/小时

应用案例